冷熱沖擊試驗箱
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發(fā)布時間:2012-10-09
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產(chǎn)品說明:
適合電子、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT、等...
產(chǎn) 品 特 點 |
1、試驗系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計先進合理,GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001 2、該試驗箱主要功能元器件均采用配置 3、整機制冷系統(tǒng)采用PID演算控制,不需加配發(fā)熱管消耗額外功率, 4、設(shè)備具有良好的操作性、維護性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康。 |
應(yīng) 用 領(lǐng) 域 |
用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT、等物理性變化的測試之用 |
1.1. 標(biāo)稱內(nèi)容積 |
(80) |
1.2. 測試區(qū)內(nèi)箱尺寸 |
W(500)mm × H(400)mm × D(400)mm 寬*高*深 |
1.3. 整機外型尺寸 |
W(1350)mm × H(1860)mm × D(1860)mm |
1.4. 重 量 |
(400)KG |
2. 性能 |
|
2.1. 測試環(huán)境條件 |
環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下 |
2.2. 測試方法 |
GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001 |
2.3. 高低溫區(qū)溫度范圍 |
1.高溫區(qū)部分:60℃~200℃ 2.低溫區(qū)部分:-10℃~-70℃ 3.測試區(qū)部分:150℃~-55℃ |
2.4. 溫度測試范圍 |
1.高溫:60℃~150℃ 2.低溫:-10℃~-(65)℃ |
2.5. 高低溫轉(zhuǎn)換時間 |
≤10S |
2.6. 高低溫恢復(fù)時間 |
3~5min(非線性空載下) |
2.7. 控制 精度 |
溫度:±0.2℃ (指控制器設(shè)定值和控制器實測值之差) |
2.8. 溫度波動度 |
≤0.5℃(溫度波動度為中心點實測最高溫度和最低溫度之差的一半) |
2.9. 溫度 誤差 |
≤±1℃(工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點實測的平均溫度) |
2.10. 溫度均勻度 |
≤2.0℃(溫度均勻度為每次測試中實測最高溫度和最低溫度之差的算術(shù)平均值) |
2.11. 預(yù)熱區(qū)升溫速度 |
≥3℃/min(非線性) |
2.12. 預(yù)冷區(qū)降溫速度 |
≥2℃/min(非線性) |
2.13. 工作噪音
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A聲級≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃,回聲少的隔音室內(nèi)測得;采用A計權(quán),測試8個點的平均值;各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米) |
2.14. 滿足試驗方法
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GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗方法 Ab GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb GB2423.22-87溫度變化試驗方法 GJB150.5-86溫度沖擊試驗 GJB360.7-87溫度沖擊試驗 GJB367.2-87溫度沖擊試驗 (每立方米負載不大于35kg/m3鋼的熱容量,濕熱試驗時無有源濕、熱負載) |
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